PCT老化箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。

PCT老化試驗箱規(guī)范要求 

PCT老化箱內(nèi)膽采用圓弧設計,復合國家安全容器標準,可以防止試驗結(jié)露滴水現(xiàn)象，從而避免產(chǎn)品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結(jié)果。

配備雙層不銹鋼產(chǎn)品架,也可根據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格尺寸免費量身定制產(chǎn)品架。

PCT老化試驗箱安全保護裝置 

A、誤操作安全裝置：高壓加速老化試驗箱鍋門若未關(guān)緊則機器無法啟動.

B、超壓安全保護：當鍋內(nèi)壓力超過大工作值自動排氣泄壓.

C、超溫保護：當鍋內(nèi)溫度過高時機器鳴叫警報并自動切斷加熱電源.

D、防燙傷保護：特制材質(zhì)制成可防止操作人員接觸燙傷.

E、手動安全保護排壓伐.

PCT老化箱注意事項

自動門禁,圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制,安全門把設計,箱內(nèi)有大于常壓時測試門會被反壓保護。

內(nèi)壓力愈大時,ASLI,箱門會有反壓會使其與箱體更緊密結(jié)合,與傳統(tǒng)擠壓式*不同,可延長壽命。

PCT老化試驗箱使用干布擦拭儀表，不要使用酒精、汽油或其他有機溶劑，不要把水濺到儀表上，如果儀表浸入水中，請立即停止使用，否則有漏電、觸電或火災的危險。

在運轉(zhuǎn)中，進行修改設定、信號輸出、啟動、停止等操作之前，應充分地考慮安全性，錯誤的操作會使工作設備損壞或發(fā)生故障。

加水至水箱時請勿超過水位高度70%的水位線，以免造成箱內(nèi)回水無法干燥 ;且在加水時速度不宜過快,以免水溢出浸濕電子部件而導至機器故障

水質(zhì)以純凈水或電解水為準，以避免加熱時在內(nèi)箱無發(fā)導電 .每日須將置物盤架取出 , 使用濕布并配合中性清冼劑將箱內(nèi)擦拭干凈 ,以免水垢造